Bowman
Hochleistungsröntgenfluoreszenzspektrometer Bowman zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse, für gleichbleibende Fertigungs- und hohe Produktqualität.
Schichtdickenmessgerät Bowman
Schichtdickenanalyse basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA) bietet leicht zu bedienende, schnelle und zerstörungsfreie Analyse fast ohne Probenvorbereitung.
Mit hoch auflösendem und leistungsstarken SDD ist das Bowman das ideale Instrument um dünnste Beschichtungen und Elementzusammensetzung im Spurenbereich, feste und flüssige Stoffe über einen weiten Elementbereich von AI bis zu U in der Periodentabelle zu analysieren.
Hauptmerkmale
- Leistungsstarker SiPIN oder hochauflösender (SDD), optional auch 70mm² Silizium-Drift-Detektor, für die Analyse dünnster Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und Spurenanalyse
- Kapillaroptik optional
- 50 Watt Röntgenröhre aus deutscher Fertigung
- Laserfokus
- fester oder multivariabler Fokus
- Weiter Elementbereich von AI bis U
- Große, geschlitzte Probenkammer
Leistungsfähige Software
- Erstellung von Kalibrierungen mit Fundamentalparametern (FP) oder empirisch für höchste Genauigkeit
- Erstellung von Kalibrierungen mit Schritt-für-Schritt-Anleitung, um Bestandteile von Metallen, Polymere, Lösungen und Pulver zu messen
- Intuitive Benutzeroberfläche
- Übersichtliche Darstellung für die Tagesroutine
- Erweiterte Funktionalität für Vielnutzer
- Passwortschutz für alle Nutzerebenen
- Keine Limitierungen für weitere Kalibrierungen
- Alle Messungen werden automatisch gespeichert
- Verschiedene Suchfunktionen (Los #, ANr #, etc.)
- Anpassbarer 1-Click Berichtsgenerator
- Datenexport als PDF, CSV, etc.
- Standardmäßig komplette Software
- Frei belegbare Funktionstasten für schnellen Applikationswechsel
- Übersichtliche und farbige Ergebnisdarstellung
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